原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(VI)的方法研究

应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(VI)的含量，可适应 RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题。其相对标准偏差 (RSD) :2.03%;检出限: 0.064 6mg/L;线性范围宽，校准曲线的线性相关系数应大于0.999等。有效地将铬( VI)、铬(III)分离，并有效地消除基体干扰等，完全能够适应电子电气产品中铬 (VI)的测定。

关键词：原子荧光光谱法 电子电气产品 铬（Ⅵ）方法研究 中国

作者：闫军 高峰 张锐 金雨琴

原稿日期：2007-03-20

文献来源：信息技术与标准化

ICS分类号：71.040_分析化学;97.030_家用电气设备综合